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全新NI PXI射频开关为规模化测试系统延寿提速

发布日期:2012-08-14 浏览次数:0 我要评论(0) 字号:

新闻要点

•NI PXI/PXIe-2543固态开关模块能够以更加快速的开关以及无限的机械寿命周期,对高达6.6 GHz的射频信号进行路由。
•对于许多规模化的生产测试应用,包括半导体和移动终端测试,新的射频开关不但增加了测试吞吐量且保证了长期的测量可重复性。
•开关模块进一步扩大了NI PXI模块化仪器的板卡家族,帮助射频工程师面对最新的挑战。

2012年8月- 美国国家仪器公司(National Instruments, 简称 NI)近日发布新的NI PXI/PXIe-2543固态射频多路复用器,为工程师提供了一个长期高效的解决方案来对高达6.6GHz的射频信号的路由进行优化。相较传统的机电开 关解决方案,NI PXI/PXIe-2543的固态构架能够实现更加快速的开关以及多次重复测量。

感言:

“新的NI PXI/PXIe-2543固态开关是基于行业领先的NI PXI平台的成功经验构建而成,其固态架构为射频应用提供了高速度和可靠性。”美国国家仪器有限公司测试市场总监Charles Schroeder如是说道,“使用这个开关,自动化测试领域的工程师可以整合并同步许多PXI仪器,包括射频发生器和分析仪,从而最大化测试系统的投入 产出比并能够进一步提高精确度和吞吐量。”

产品特性

针对于高密度射频开关的6.6GHz双4x1多路复用器,适用于多站测试
采用固态架构,延长了开关的使用寿命
所有通道都使用了50 Ohm终端,提高射频性能
整合PXI触发以进行快速可重复的测量

访问相关资源,了解更多关于NI PXI/PXIe-2543以及其他NI开关,请访问http://www.ni.com/rf/zhs/

关于NI

自1976年以来,美国国家仪器,简称NI (www.ni.com)一直致力于提供各种工具来帮助工程师和科学家提高效率、加速创新和探索。 NI的图形化系统设计方法为工程界提供了集成的软硬件平台,有助于加速测量和控制系统的开发。 长期以来,NI一直期望并努力通过自身的技术来改善社会的发展,确保客户、员工、供应商及股东获得成功。