| 射频功放(PA)高级测试解决方案 | |
 | 本射频功放(PA)高级测试解决方案包括数字预失真、包络跟踪、自动表征和生产测试等方面的解决方案。LTE Advanced和802.11ac等越来越多的无线标准需要与包络跟踪(ET)和预失真(DPD)等RF功率放大器(PA)技术相结合，为此为当今的工程师带来新的测试挑战。NI PXI为从初始产品设计到生产测试等各个阶段的PA测试提供了全面的解决方案。更多RF详情见ni.com/rf/zhs/ |
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| 本射频功放(PA)高级测试解决方案包括数字预失真、包络跟踪、自动表征和生产测试等方面的解决方案。LTE Advanced和802.11ac等越来越多的无线标准需要与包络跟踪(ET)和预失真(DPD)等RF功率放大器(PA)技术相结合，为此为当今的工程师带来新的测试挑战。NI PXI为从初始产品设计到生产测试等各个阶段的PA测试提供了全面的解决方案。更多RF详情见ni.com/rf/zhs/ |