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本届博览会是在原有中国电子展、中国消费电子展（CEF）、深圳光电显示周、中国（国际）彩电节的基础上整合而成。展会展出产品技术覆盖电子信息产业全产业链，是目前为止亚洲最大规...
IWS2013是由IEEE微波理论与技术协会（MTT-S）在中国举办的首届国际无线会议及展览。NI作为本次活动的主要赞助商之一，在展会上展示了其最新的微波与射频测试测量产品和解决方案。
NI中国西北区院校代表徐征先生和负责射频通信方向的院校市场工程师田砾女士分别以“NI院校计划助力信息通信类创新型工程人才的培养”和“部分国外通信类教学情况调研”为主题在研...
NI中国院校市场经理倪斌先生和NI负责射频通信方向的院校市场工程师田砾分别以“NI院校计划助力信息通信类创新型工程人才的培养”和“部分国外通信类教学情况调研”为主题在研讨会...
NI近日发布了NI NI PXIe-5632 VNA，它经进一步优化，可帮助工程师满足日益复杂的射频测试要求，而其成本、尺寸和使用所需时间仅是传统堆叠式解决方案的极小一部分。 新的PXIe...
NI于2012年11月23日参加了由工业和信息化部电信研究院和TD技术论坛联合举办的2012 TD-LTE测试技术研讨会。NI在此研讨会上发表了题为＂重新定义移动通信测试——从研发验证到制造...
美国国家仪器公司（National Instruments, 简称 NI）近日发布了 LabWindows CVI 2012，该平台是为测试测量软件的编程人员所开发的最新版本的ANSI C IDE。
