NI帮助工程师显著缩短5G OTA验证的RF测试时间

全新​参考​架构​可​快速、​准确​且​经济​高效​地​对​封​装​天线​(AiP)​器件​进行​射频​OTA​验证

美国​国家​仪器​(National Instruments，​简称​NI)​是​一家​提供​软件​定义​平台​的​供应​商，​其​平台​有助​于​加速​自动​化​测试​和​自动​化​测量​系统​的​开发​和​性能​提升，​该​公司​今日​发布​了​硬件​加速​的​5G​毫米波​OTA​验证​测试​参考​架构，​可​对​5G 毫米波​波束​成形​AiP​器件​进行​全面​的​特性​分析​和​验证。

与​传统​的​点对点​软件​控制​测试​系统​相比，​NI​的​毫米波​OTA​验证​测试​参考​架构​可在​24 GHz​到​44 GHz​的​5G​毫米波​频​段​内​快速​扫描​OTA​空间，​帮助​用户​显著​缩短​AiP​器件​的​OTA​射频​验证​测试​时间。​这​一​全新​的​参考​架构​使得​正在​研究​最新​5G AiP​器件​的​特性​分析​和​验证​工程​师​能够​利用​更宽、​更​复杂​的​5G​新​空​口​信号​研究​其​器件​的​波束​成形​性能，​同时​缩短​开发​周期。​NI​的​快速​OTA​测试​方法​可​帮助​工程​师​使用​更​密集​的​空间​网​格​并​获得​更​精细​的​3D​空间​分辨​率，​同时​维持​较​短​的​测试​时间。​此外，​借助​NI​的​毫米波​OTA​验证​测试​软件，​验证​工程​师​可以​在​生成、​可​视​化、​存储​或​发布​详细​的​参数​结果​时​快速​配置​这些​空间​扫描，​以​分析​其​器件​的​天线​方向​图​特性。

“5G​毫米波​半导体​产业​发展​迅速，​测试​系统​需要​为​新的​5G​波束​形成​设备​做好​准备，”Anokiwave​首席​战略​官​Alastair Upton​说道，“工程​师​将​需要​快速、​准确​且​价格​合理​的​工具​来​测量​和​确保​器件​的​波束​形成​性能，​以便​下一代​毫米波​半导体​能够​在​全球​范围​内​充分​发挥​其​潜力。”

NI​的​毫米波​OTA​验证​测试​参考​架构​由​以下​部分​构成：

• NI​毫米波​VST，​用于​生成​和​测量​宽​带​RF​信号
• PXI​仪器，​用于​实现​可​重复​和​精确​的​运动​控制
• 隔离​微波​暗室，​可在​安静​的​环境​中​进行​真正​的​远​场​辐射​测试
• 毫米波​OTA​验证​测试​软件，​实现​交互​使用​和​自动化

NI​一直​以来​致力​于​不断​扩大​5G​毫米波​器件​的​测试​范围，​同时​帮助​用户​降低​测试​成本​和​缩短​上市​时间，​此次​发布​的​毫米波​OTA​验证​测试​参考​架构​正是​这​一​努力​的​最新​成果。​这​一​解决​方案​完善​了​NI​模​块​化​仪器​产品​系列​和​测量​软件，​可​对​最新​的​Sub-6 GHz​至​毫米波​的​最新​5G RFIC​器件​进行​特性​分析​和​验证。

了解​有关​NI​的​毫米波​OTA​验证​测试​参考​架构​的​更多​信息 。

关于NI​

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