使用半导体测试系统测试RF前端集成电路

半导体测试系统(STS)是一系列生产级测试系统，在完全封闭的测试头内结合了NI PXI平台、TestStand测试管理软件以及LabVIEW图形化编程。 它采用“集成到测试头”的设计，将生产测试装置的主要组件集成在一起，包括系统控制器；直流、交流和射频仪器；待测设备连接以及分选机(Handler)/探针台(Prober)对接机制。 下载深入技术白皮书，了解基于平台的方法如何弥合特性分析和生产测试之间的鸿沟。